防範AI眼鏡等科技舞弊情事 分科測驗首度出動金屬探測器待命

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〔記者楊綿傑／台北報導〕115學年度分科測驗今起展開，為因應電子產品普及，此次考試首度加入金屬探測器防弊，大考中心今天強調，增加金屬探測相關措施是為了維護考試公平，並非針對每位考生都掃描，而一經發現將依情節提報考委會議處，呼籲考生應該將手機及任何電子穿戴式裝置關機並避免攜帶入座。

分科測驗首日考物理、化學、數學甲、生物等4科。根據大考中心統計，首科物理共有2萬606人報名，實到1萬8778人、缺考1828人，缺考率8.87%，較去年缺考率7.23%增加1.64%。使用到1間備用試場，位在台中，原因是考生下肢不便。

針對首次使用金屬探測器，大考中心主任張新仁說明，每個考區都配有金屬探測器，使用是為了維護考試公平性，防止電子舞弊情事，因此新增試務人員將於必要時得進行電子及金屬探測相關措施，以查驗考生是否使用、攜帶行動電話、電子穿戴裝置如智慧眼鏡、智慧手表、智慧手環、智慧耳機等，並非對每位考生都會進行金屬探測掃描。

張新仁指出，當考試鈴響後，若考生應試時將行動電話、電子穿戴裝置等攜帶入座，一經發現即配合交出，試務人員就不會使用金屬探測器；但若發現有使用情況，考生拒不配合交出、受檢，或發現其行為異常，疑似使用電子設備的情況，才會使用金屬探測器查驗。因此提醒考生包括行動電話、電子穿戴式裝置等必須完全關機，並置於臨時置物區。

張新仁表示，依據違規處理辦法第2條第2項，監試或試務人員得對可能擾亂試場秩序、妨害考試公平之情事進行即時必要之處置，考生應予以充分配合，否則依其情節輕重提報議處。使用金屬探測器確認違規情事後，會根據情節輕重，後續提報考委會討論做議處。至於是否涉及干涉隱私問題，張新仁強調，參與考試，公平性最重要，也不會干擾到試場其他考生活動的進行。

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